ILT 5000 SED005WBS320W紫外光(guang)(guang)固化與光(guang)(guang)輻(fu)射危(wei)害及閃光(guang)(guang)燈測(ce)量系統

紫外(wai)光(guang)(guang)固(gu)化與光(guang)(guang)輻(fu)射危(wei)害及閃光(guang)(guang)燈(deng)測量系統的研究

光學分析的10多個進制單位的動(dong)態范(fan)圍(wei)

Pico-ammeter：10fA至1mA（從100fA至1mA校準）

無線通信：內(nei)置

用戶控制或自動：范圍、規零(ling)/暗(an)零、采樣率

4-20 mA輸出

15針D Sub和SMA輸(shu)入端口

“Set it & Forget It”遠程數據記(ji)錄

電(dian)源：USB或內置充電電池(chi)組(zu)

多系統同時連續監測

包括DataLight II軟件和Labview采樣代碼

NIST可追溯/ISO17025認證(zheng)校準

采樣率高達100 Hz，可編(bian)程

ILT 5000 SED005WBS320W紫外光(guang)固化與光(guang)輻射危害及閃(shan)光(guang)燈測量系統(tong)描述：

紫外敏感(gan)危害探測器設計為(wei)在250至400 nm的寬紫外(wai)波段上具(ju)有高靈敏度，用于紫外(wai)敏感危害研(yan)究

測量(liang)

測量范圍：2.33e-8至2.33e+0 W/cm2

光譜范圍：250–400 nm

配置(zhi)：ILT5000*，SED005/WBS320/W（探頭）

*包括(kuo)軟件

應(ying)用：該檢(jian)測器經過(guo)特殊配(pei)置(zhi)，可準確(que)測量穿過UV波段的寬波部分，用(yong)于總(zong)UV靈敏(min)度危(wei)險監測。

濾光片和輸入(ru)光學元件(jian)是可拆卸的，可以(yi)與探測器組件(jian)分開(kai)購買，以允許濾(lv)光片(pian)和輸入光(guang)學元件互換。

注：配置(zhi)中(zhong)不含圖片中(zhong)的平板電腦(nao)。